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Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis
Tipo de material:
TextoIdioma: Inglés Detalles de publicación: New York: Plenum Press, 1986.Descripción: 454 páginas: ilustraciones; 23 cmISBN: - 0-306-42140-2
- 21 502.825/N49
Contenidos:
1. Modeling electron beam-specimen interactions -- 2. SEM Microcharacterization of semiconductors -- 3. Electron channeling contrast in the SEM -- 4. Magnetic Contrast in the SEM -- 5. Computer-Aided imaging and interpretation -- 6. Alternative microanalytical techniques -- 7. Specimen coating -- 8. Advances in specimen preparation for biological SEM -- 9. Cryomicroscopy.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Código de barras | |
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Libros
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Mayorazgo | Colección Bibliográfica | 502.825/N49 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 0000675 |
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Incluye índice: páginas 449-454.
Incluye referencias bibliográficas: páginas 435-448.
1. Modeling electron beam-specimen interactions -- 2. SEM Microcharacterization of semiconductors -- 3. Electron channeling contrast in the SEM -- 4. Magnetic Contrast in the SEM -- 5. Computer-Aided imaging and interpretation -- 6. Alternative microanalytical techniques -- 7. Specimen coating -- 8. Advances in specimen preparation for biological SEM -- 9. Cryomicroscopy.
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