Vista normal  Vista MARC  Vista ISBD

Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis

Por: Newbury, Dale E [autor] .Colaborador(es): Joy, David C [autor]  | Echlin, Patrick [autor]  | Fiori, Charles [autor]  | Goldstein, Joseph I [autor] .Tipo de material: TextoTextoEditor: New York: Plenum Press, 1986Descripción: 454 páginas: ilustraciones; 23 cm.ISBN: 0-306-42140-2.Clasificación CDD: 502.825/N49
Contenidos:
1. Modeling electron beam-specimen interactions -- 2. SEM Microcharacterization of semiconductors -- 3. Electron channeling contrast in the SEM -- 4. Magnetic Contrast in the SEM -- 5. Computer-Aided imaging and interpretation -- 6. Alternative microanalytical techniques -- 7. Specimen coating -- 8. Advances in specimen preparation for biological SEM -- 9. Cryomicroscopy.
    Valoración media: 0.0 (0 votos)
Tipo de ítem Colección Signatura Estado Código de barras
Libros Libros Colección Bibliográfica 502.825/N49 (Navegar estantería) Disponible 0000675
Total de reservas: 0

Incluye índice: páginas 449-454.

Incluye referencias bibliográficas: páginas 435-448.

1. Modeling electron beam-specimen interactions -- 2. SEM Microcharacterization of semiconductors -- 3. Electron channeling contrast in the SEM -- 4. Magnetic Contrast in the SEM -- 5. Computer-Aided imaging and interpretation -- 6. Alternative microanalytical techniques -- 7. Specimen coating -- 8. Advances in specimen preparation for biological SEM -- 9. Cryomicroscopy.

Haga clic en una imagen para verla en el visor de imágenes