Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis
Tipo de material: TextoEditor: New York: Plenum Press, 1986Descripción: 454 páginas: ilustraciones; 23 cm.ISBN: 0-306-42140-2.Clasificación CDD: 502.825/N49Tipo de ítem | Colección | Signatura | Estado | Código de barras |
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Libros | Colección Bibliográfica | 502.825/N49 (Navegar estantería) | Disponible | 0000675 |
Incluye índice: páginas 449-454.
Incluye referencias bibliográficas: páginas 435-448.
1. Modeling electron beam-specimen interactions -- 2. SEM Microcharacterization of semiconductors -- 3. Electron channeling contrast in the SEM -- 4. Magnetic Contrast in the SEM -- 5. Computer-Aided imaging and interpretation -- 6. Alternative microanalytical techniques -- 7. Specimen coating -- 8. Advances in specimen preparation for biological SEM -- 9. Cryomicroscopy.