Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis (Registro nro. 4305)
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000 -INDICADOR | |
---|---|
Campo de control de longitud fija | 01244nam a2200277Ia 4500 |
003 - IDENTIFICADOR DE NRO. DE CONTROL | |
Campo de control | OSt |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
Campo de control | 20191104155759.0 |
008 - CAMPOS DE LONGITUD FIJA INFORMACIÓN GENERAL | |
Campo de control de longitud fija | 180305s1986||||-usaaaafr|||||||1 ||eng|d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO DE LIBRO (ISBN) | |
ISBN | 0-306-42140-2 |
040 ## - CÓDIGO DE CATALOGADOR | |
Centro catalogador de origen | peliigp |
Lengua de catalogación | español |
Centro transcriptor | peliigp |
041 ## - CÓDIGO DE IDIOMA | |
Código de idioma(s) de texto | eng |
082 04 - SISTEMA DE CLASIFICACION DECIMAL DEWEY | |
Número de clasificación Dewey | 502.825/N49 |
100 1# - ASIENTO PRINCIPAL--AUTOR PERSONAL | |
9 (RLIN) | 1306 |
Apellido(s), nombre(s) | Newbury, Dale E. |
Término de relación | autor |
245 10 - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO | |
Título | Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis |
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. (PIE DE IMPRENTA) | |
Lugar de pubicación, distribución, etc. | New York: |
Nombre del editor, distribuidor | Plenum Press, |
Fecha de publicación, distribución, etc. | 1986. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FISICA | |
Extensión de la obra | 454 páginas: |
Características físicas | ilustraciones; |
Dimensiones | 23 cm. |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Incluye índice: páginas 449-454. |
504 ## - NOTA BIBLIOGRÁFICA | |
Nota de bibliografía, etc. | Incluye referencias bibliográficas: páginas 435-448. |
505 ## - NOTA DE CONTENIDO | |
Nota de contenido | 1. Modeling electron beam-specimen interactions -- 2. SEM Microcharacterization of semiconductors -- 3. Electron channeling contrast in the SEM -- 4. Magnetic Contrast in the SEM -- 5. Computer-Aided imaging and interpretation -- 6. Alternative microanalytical techniques -- 7. Specimen coating -- 8. Advances in specimen preparation for biological SEM -- 9. Cryomicroscopy. |
700 1# - ASIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
9 (RLIN) | 1308 |
Apellidos y nombres | Joy, David C. |
Término indicativo de la función | autor |
700 1# - ASIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
9 (RLIN) | 1307 |
Apellidos y nombres | Echlin, Patrick |
Término indicativo de la función | autor |
700 1# - ASIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
9 (RLIN) | 1309 |
Apellidos y nombres | Fiori, Charles |
Término indicativo de la función | autor |
700 1# - ASIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
9 (RLIN) | 1303 |
Apellidos y nombres | Goldstein, Joseph I. |
Término indicativo de la función | autor |
910 ## - DATOS DE OPCIÓN DE USUARIO | |
Catalogador | phc |
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA AGREGADOS (KOHA) | |
Tipo de item | Libros |
Source of classification or shelving scheme | Dewey Decimal Classification |
Retirado | Perdido | Tipo de clasificación | Nivel de Daño | No es para préstamos | Colección | Ubicación permanente | Ubicación actual | Préstamo | Total préstamos | Signatura topográfica completa | Código de barras | Visto por última vez | Número de Ejemplar | Precio efectivo desde | Tipo de Item |
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Dewey Decimal Classification | Colección Bibliográfica | Mayorazgo | Mayorazgo | 06/03/2018 | 502.825/N49 | 0000675 | 06/03/2018 | 1 | 06/03/2018 | Libros |