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Advanced scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis

Por: Colaborador(es): Tipo de material: TextoTextoIdioma: Inglés Detalles de publicación: New York: Plenum Press, 1986.Descripción: 454 páginas: ilustraciones; 23 cmISBN:
  • 0-306-42140-2
Clasificación CDD:
  • 21 502.825/N49
Contenidos:
1. Modeling electron beam-specimen interactions -- 2. SEM Microcharacterization of semiconductors -- 3. Electron channeling contrast in the SEM -- 4. Magnetic Contrast in the SEM -- 5. Computer-Aided imaging and interpretation -- 6. Alternative microanalytical techniques -- 7. Specimen coating -- 8. Advances in specimen preparation for biological SEM -- 9. Cryomicroscopy.
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Libros Libros Mayorazgo Colección Bibliográfica 502.825/N49 (Navegar estantería(Abre debajo)) 1 Disponible 0000675
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Incluye índice: páginas 449-454.

Incluye referencias bibliográficas: páginas 435-448.

1. Modeling electron beam-specimen interactions -- 2. SEM Microcharacterization of semiconductors -- 3. Electron channeling contrast in the SEM -- 4. Magnetic Contrast in the SEM -- 5. Computer-Aided imaging and interpretation -- 6. Alternative microanalytical techniques -- 7. Specimen coating -- 8. Advances in specimen preparation for biological SEM -- 9. Cryomicroscopy.

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