Scanning electron microscopy and X-Ray Microanalysis: a text for biologists, materials scientists, and geologists
Tipo de material:
TextoIdioma: Inglés Detalles de publicación: New York: Plenum Press, 1981.Descripción: 673 páginas: ilustraciones; 23 cmISBN: - 0-306-40768-X
- 21 502.825/G59
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Código de barras | |
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Libros
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Mayorazgo | Colección Bibliográfica | 502.825/G59 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 0002718 |
Incluye índice: páginas 665-673.
Incluye referencias bibliográficas: páginas 649-664.
1. Introduction -- 2. Electron optics -- 3. Electron-beam-specimen interactions -- 4. Image formation in the scanning electron microscope -- 5. X-Ray spectral measurement: WDS and EDS -- 6. Qualitative X-Ray Analysis -- 7. Quantitative X-Ray Microanalysis -- 8. Practical Techniques of X-Ray Analysis -- 9. Materials Specimen preparation for SEM and X-ray microanalysis -- 10. Coating techniques for SEM and Microanalysis -- 11. Preparation of biological samples for scanning electron microscopy -- 12. Preparation of biological samples for X-Ray microanalysis -- 13. Applications of the SEM and EPMA to solid samples and biological materials -- 14. Data Base.
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