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EMI troubleshooting techniques
Tipo de material:
TextoIdioma: Inglés Detalles de publicación: McGraw Hill Companies, Estados Unidos: 2000Descripción: 296 páginas: ilustraciones, fotografías; 23 cmISBN: - 0-07-134418-7
- 621.3.013.7/M26
Contenidos:
1. Introduction: Brush-up on some EMI/EMC basics -- 2. Optimal selection of EMI fixes -- 3. Diagnostics, troubleshooting techniques, and instrumentation -- 4. Conduction-type fixes -- 5. Capacitive types of EMC solutions -- 6. Inductive, series-loss EMC solutions -- 7. Power-line filters -- 8. Power-line isolation transformers, power conditioners, and uninterruptible power supplies -- 9. Signal-type isolation transformers -- 10. Transient suppressors -- 11. Bonding, ground continuity, and RF impedance reduction -- 12. Radiation-type fixes -- 13. EMI problems during EMC tests: practical hints
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Código de barras | |
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Libros
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Jicamarca | Colección Bibliográfica | 621.3.013.7/M26 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | ROJ0000134 |
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| 621.3.011.7/H28 Active network theory | 621.3.011.7/S43 Linear graphs and electrical networks | 621.3.011.7/W38 Network analysis and synthesis | 621.3.013.7/M26 EMI troubleshooting techniques | 621.3.037.3/L99 Display systems engineering | 621.3.038.614/V78 RF design guide: | 621.3.042/M27 Magnetic circuits and transformers: |
Incluye índice: páginas 299-301
Referencias bibliográficas: página 297
1. Introduction: Brush-up on some EMI/EMC basics -- 2. Optimal selection of EMI fixes -- 3. Diagnostics, troubleshooting techniques, and instrumentation -- 4. Conduction-type fixes -- 5. Capacitive types of EMC solutions -- 6. Inductive, series-loss EMC solutions -- 7. Power-line filters -- 8. Power-line isolation transformers, power conditioners, and uninterruptible power supplies -- 9. Signal-type isolation transformers -- 10. Transient suppressors -- 11. Bonding, ground continuity, and RF impedance reduction -- 12. Radiation-type fixes -- 13. EMI problems during EMC tests: practical hints
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